碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统 参考价：面议
碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统：最高检测速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分类识别。
SiC晶圆质量成像检测系统 参考价：面议
碳化硅成像检测,SiC晶圆质量成像检测系统：晶圆衬底质量（载流子寿命）高速成像，快速筛查外延片晶格质量。
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统 参考价：面议
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统检测时间＜10 min（10cm*10cm） 空间分辨率20 μm/100μm。
MICRO LED晶圆级综合检测系统 参考价：面议
MICRO LED晶圆级综合检测系统明场/PL检测类型：明场缺陷分析、电极缺陷分析、PL缺陷分析。
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